Presidencia de la Nación

Ensayos de daño por radiación y ambiente


La línea de irradiación EDRA (Ensayos de Daño por Radiación y Ambiente) está instalada en el Acelerador Tandar y se utiliza para hacer pruebas sobre los materiales, especialmente frente a la radiación.

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Actividades

  • Calificación de materiales y dispositivos, especialmente semiconductores, destinados a operar en ambientes hostiles caracterizados por altos niveles de radiación.
  • Medición de la dosis de irradiación recibida durante determinados experimentos en el acelerador.
  • Caracterizaciones electrónicas de dispositivos, medidor de impedancias, generadores de tensión y corriente, electrómetros, etc.
  • Caracterización de defectos en la banda prohibida utilizando la técnica denominada Deep Level Transient Spectroscopy.

En función de la caracterización a realizar, es posible irradiar con haces de hasta ocho centímetros de diámetro. La temperatura puede controlarse entre −200 °C y 200 °C, y la fluencia puede reducirse hasta hasta menos de mil iones por centímetro cuadrado y segundo (<103 cm-2 s-1).

Equipamiento

La cámara de irradiación tiene 340 mm de alto y 680 mm de diámetro y la cual puede alcanzar una presión de aproximadamente 10-6 torr. Algunas de sus ventajas son:

  • Posibilidad de obtener un gran área de irradiación (hasta 80 mm de diámetro).
  • Control remoto de los portamuestras/sensores por medio de motores paso a paso.
  • Control de temperatura, desde LN2 hasta 300 ºC.
  • Control de iluminación por medio de un simulador solar.
  • Variedad de conectores BNC y DB25, lo que permite realizar mediciones in situ y/o controlar sistemas electrónicos internos.
  • Posibilidad de realizar estudios TNID, TID ó SEP.

Se dispone de un arreglo de 37 copas de Faraday y un sistema multiplexor para la medición de la dosis de irradiación recibida en experimentos específicos realizados en el acelerador. El sistema permite al usuario seleccionar, desde una PC, la copa con la cual efectuar la medición y obtener los valores.

Equipamiento para caracterizaciones electrónicas de dispositivos, medidor de impedancias, generadores de tensión y corriente, electrómetros, etc.

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