Rayos X
Este Laboratorio ha sido habilitado por el área de Radiofísica Sanitaria del Ministerio de Salud Pública de la Nación por Disposición 71/14 y se encuentra dentro del Sistema Nacional de Rayos X (SNRX, de Educación, Cultura, Ciencia y Tecnología).
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Actividades que se realizan
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Determinación Multielemental por Fluorescencia de Rayos X Dispersiva en Longitud de Onda.
El laboratorio cuenta con un espectrómetro de Rayos X que permite analizar elementos desde flúor (F) hasta uranio (U) en una gran variedad de tipos de muestras, con la ventaja de poder realizar un análisis ultrarrápido de muestras totalmente desconocidas en un amplio rango de concentraciones. Este equipamiento es diseñado para aplicaciones de control de proceso y calidad industrial, y como una poderosa herramienta de análisis elemental para muestras de investigación y desarrollo. -
Determinación de fases por Difracción de Rayos X
Los métodos de Difracción de Rayos X constituyen una de las herramientas imprescindibles para el estudio de la estructura cristalina de sólidos. Uno de los métodos más habituales es el método de polvos, el cual permite la identificación de fases cristalinas y, aplicando el método de refinamiento de Rietveld, el análisis cuantitativo de las mismas.
Aunque las técnicas de Difracción de Rayos X pueden utilizarse para determinar la estructura de materiales con periodicidad espacial, como fibras helicoidales (ADN, virus, etc.) y cuasicristales, no es posible estudiar por este método compuestos que no posean un orden interno (sólidos desordenados como vidrios, gases y líquidos).
Equipamiento
- Espectrómetro de fluorescencia de Rayos X dispersivo en longitud de onda. Marca Bruker, Modelo S8 Tiger.
- Difractómetro de Rayos X Bruker D8 Advance, geometría Theta/Theta, equipado con radiación de Cu, detector unidimensional del tipo “faja de silicio compuesto” para mediciones ultrarrápidas (LynxEye (TM)) y una cámara de alta temperatura HTC-BASIC. La HTC-BASIC es una cámara de alto vacío diseñada para operar desde temperatura ambiente hasta 1600ºC con calentamiento directo de la muestra.