Solicitar turno para observaciones en microscopía electrónica

La técnica de microscopía electrónica de barrido (entre 500 nm y 10 nm) permite la caracterización de materiales y los estudios de integridad para diferentes tipos de materiales.


  • Microscopio Electrónico de Barrido (MEB), del inglés Scanning Electron Microscope (SEM), que utiliza electrones en lugar de luz para formar una imagen.
    Este equipo cuenta con un dispositivo que genera un haz de electrones para iluminar la muestra. Luego, con diferentes detectores se recogen los electrones generados de la interacción con la superficie de la muestra para crear una imagen con buena resolución (5 nm aproximadamente). Este proceso permite proporcionar información de las formas y realizar mediciones entre 10 mm y 500 nm.

  • Microscopio Electrónico de Transmisión (MET), o TEM por sus siglas en inglés.
    La característica de este equipo es que el haz de electrones atraviesa la muestra formando una imagen aumentada de la misma, por lo que su resolución es extremadamente superior (0.45 nm aprox).

Ambos microscopios pueden determinar los elementos químicos presentes (Z= 4 a Z=92) cuando se lo complementa con técnicas de microanálisis dispersivo en energías de rayos X (EDS).

Las aplicaciones de los microscopios electrónicos son entre otras;

• caracterización microestructural de materiales;
• identificación, análisis de fases cristalinas y transiciones de fases en diversos materiales tales como metales, cerámicos, materiales compuestos, semiconductores, polímeros y minerales.
• determinación del grado de cristalinidad y presencia de defectos. Identificación del tipo de degradación:

  • corrosión
  • fragilización
  • control de calidad, estudio de fatiga de materiales y análisis de fractura (fractomecánica) en materiales.

En el Laboratorio de Ensayos de Materiales (LEM) contamos con profesionales especializados y equipamiento adecuado, como el SEM QUANTA 200 y el TEM Philips CM200.

Nuestros ensayos están certificados bajo norma ISO 9001:2015 y ISO / IEC 17025

¿A quién está dirigido?

A centros de investigación relacionados con museos, ciencia y técnica; organismos o entidades públicas; empresas metalúrgicas y metalmecánicas; bioingeniería; pictografía; cemento; cosmética, entre otras.

¿Qué necesito?

Si querés realizar una observación el el microscopio electrónico de barrido (SEM):
* traé tu muestra. Las dimensiones máximas permitidas son:

  • altura: 15 mm*
  • largo / ancho: 25 mm*
  • peso: 300 g*

    Para utilizar el microscopio electrónico de transmisión (TEM), tenés que consultar sobre la preparación de la muestra. Por favor, escribinos a sdoming@mail.cnea.gov.ar.

presentá tu constancia de Inscripción de AFIP.

La muestra será aceptada previa revisión visual en el laboratorio, antes de realizarse el ensayo.

¿Cómo hago?

2

Describí la muestra que querés analizar. Podés incorporar una foto de la muestra o documentación, si lo crees conveniente.

3

Te enviamos a tu correo, la cotización del trabajo.

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Si aprobás nuestra propuesta, te asignamos un turno.

Ese día, vení con el material al Centro Atómico Constituyentes - CAC.

5

Vas a estar presente durante el análisis y te llevás el informe cuando finalice.

Para ingresar al CAC tenés que traer DNI, obligatoriamente.

¿Cuánto tiempo lleva hacer el trámite?

¿Cuál es el costo del trámite?

Se cotiza según tipo de servicio solicitado y las características del mismo.
El pago se puede realizar en efectivo o por transferencia bancaria a la Fundación José A. Balseiro, en el CAC.
Recordá traer la constancia de inscripción de AFIP.




Descargas

Certificado de Acreditación de Laboratorio Microscopía Electrónica (447.8 Kb)

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