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Instrumento y método para observar dominios magnéticos

Instrumento y método para observar dominios magnéticos

FICHA TECNOLÓGICA - Ref. CNEA2010PIFT001R1es


Aplicaciones

  • Caracterización de materiales magnéticos.
  • Desarrollo de dispositivos de almacenamiento magnético.
  • Investigación en nanomagnetismo.
  • Control de calidad en la fabricación de dispositivos electrónicos.
  • Observación de dominios magnéticos.
  • Obtención de información topográfica.
  • Fabricación de puntas

Problema abordado

Los métodos tradicionales para observar dominios magnéticos presentan limitaciones, como: la dificultad para obtener imágenes simultáneas de topografía y magnetización, la necesidad de utilizar equipos costosos y complejos y suelen requerir muestras altamente preparadas, lo que limita su aplicabilidad en muestras reales.

Tecnología

Esta invención describe un método y un instrumento para la caracterización magnética de materiales. El instrumento está basado en un microscopio de fuerza atómica conductora polarizada en espín (SP-CAFM) utiliza una punta magnética para interactuar con la muestra y obtener imágenes detalladas de la distribución de la magnetización. Al medir la fuerza entre la punta y la muestra, se puede reconstruir una imagen de la magnetización de la superficie. La incorporación de una película aislante entre la punta y la muestra permite medir con precisión las fuerzas magnéticas y facilita la obtención de imágenes de alta resolución. La capacidad de obtener imágenes simultáneas de topografía y magnetización proporciona una caracterización más completa y precisa de la muestra.

Nivel de Madurez Tecnológica

NIVEL 2: Formulación de la tecnología

Ventajas

  • Alta resolución: Permite obtener imágenes de dominios magnéticos con una resolución nanométrica.
  • Versatilidad: Puede ser utilizado para caracterizar una amplia variedad de materiales magnéticos.
  • No destructivo: No requiere la preparación previa de la muestra.
  • Mediciones simultáneas: Permite obtener información tanto topográfica como magnética de la muestra.

Categorías

  • Microscopía
  • Nanociencia
  • Magnetismo
  • Ciencia de materiales

Industrias

  • Electrónica
  • Energía
  • Biomedicina
  • Informática
  • Fabricación de dispositivos magnéticos

Propiedad Intelectual

Patente de Invención N°: AR078455B1.
Solicitud de Patente en Argentina N°: 20100103499.
Título: Instrumento y Método para observar dominios magnéticos y obtener información topográfica y proceso de fabricación de puntas.
Estado: Concedida vigente.

Investigadores

Martín SIRENA

 

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Referencia de la Ficha Tecnológica: CNEA2010PIFT001R1es

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