Contacto

Analizador de electrones

• Equipo para experimentos de fotoemisión (XPS,UPS y ARPES) con alta resolución en energía. Espectrómetro hemisférico de 150mm (Phoibos150, SPECS) y fuente de RX Alk (alfa) monocromática.

Microscopios de barrido

• Microscopio AFM y STM de temperatura variable (desde He líquido hasta 1000ºC) que opera en ultra-alto vacío (marca Omicron modelo VT AFM 25 DRH).
• Microscopio AFM que opera en aire en modo de contacto (Autoprobe CP de Park Scientific Instruments).

Aceleradores y fuentes de iones

• Acelerador de iones de bajas energías (1-10 keV) conectado a una cámara de alto vacío (10-7 Torr) con equipamiento para la realización de experimentos de pérdida de energía de iones en láminas delgadas.
• Acelerador de energías intermedias ( 1-100 keV) con tres cámaras independientes de ultra alto vacío (10-10 Torr) para la realización de distintos estudios, particularmente sobre caracterización de superficies preparadas en condiciones de ultra-alto vacío (con LEED, AES, TOF-DRS, TOF-ISS, UPS, EELS), adsorción de moléculas orgánicas a altas presiones (10-3 Torr) (TOF-DRS), e irradiación de dispositivos y materiales.
• Equipo para difracción de átomos rasantes a energías del orden del keV(GIFAD).

Acrónimos

- LEED: Low Energy Electron Diffraction
- AES: Auger Electron Spectroscopy
- TOF-DRS: Time-Of-Flight Direct Recoiling Spectrometry
- TOF-ISS: Time-Of-Flight Ion Scattering Spectrometry
- GIFAD: Grazing Incidence Fast Atom Diffraction
- UPS: Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy
- EELS: Electron Energy Loss Spectroscopy
- XPS: X-ray Photoelectron Spectroscopy
- SIMS: Secondary Ion Mass Spectroscopy
- ISS: Ion Scattering Spectroscopy
- AFM: Atomic Force Microscopy
- STM: Scanning Tunneling Microscopy